Eletrônica é invisível. Equipamentos de teste tornam tensão, corrente, frequência, tempo e ruído visíveis — permitindo verificação, diagnóstico e otimização em cada etapa do ciclo de vida.
| Fase | Propósito | Risco Sem Teste |
|---|---|---|
| P&D / Projeto | Validar esquemático, simular vs. realidade, caracterizar parasitas | Respins de silício ($1M+, 3 meses), falhas em campo |
| Debug de Protótipo | Encontrar erros de layout, oscilação, EMI, questões térmicas | Enviar design falho |
| DVT / PVT (Validação Projeto/Produção) | Rendimento estatístico, casos de canto, confiabilidade (HTOL, THB, ESD) | Recalls, incidentes de segurança |
| Fabricação (ICT, FCT, Burn-in) | Pegar defeitos de montagem (abertos, curtos, peças erradas, solda) | DOA returns, dano à marca |
| Conformidade (EMC, Segurança, Telecom) | Certificação FCC/CE/UL/IEC | Ilegal vender, apreensão alfândega |
| Serviço de Campo / Reparo | Isolar falha à placa/componente, verificar correção | Troca até cair, retornos NFF (No Fault Found) |
| Calibração / Metrologia | Rastreabilidade (ISO 17025) | Deriva de medição, falha em auditoria |
| Instrumento | Mede | Specs Chave | Uso Típico |
|---|---|---|---|
| Multímetro Digital (DMM) | V, I, R, continuidade, diodo, capacitância | 6.5 dígitos, 0.003% DCV | Bancada, campo, produção |
| Osciloscópio | Tensão vs tempo (analógico/digital) | Largura de banda 100 MHz–6 GHz, taxa amostragem | Integridade de sinal, timing, transientes |
| Gerador Função Arbitrário | Estímulo: seno, quadrado, pulso, arb | Freq, tempo subida, jitter | Estímulo circuito, padrões de teste |
| Analisador de Espectro | Domínio frequência (FFT) | Alcance, DANL, ruído de fase | EMI, RF, harmônicas, espúrios |
| Analisador Lógico | Estado/timing digital (muitos canais) | Canais, taxa amostragem, profundidade | Decode barramentos (I2C, SPI, UART, DDR) |
| Analisador Rede Vetorial (VNA) | Parâmetros S (RF) | Faixa freq, faixa dinâmica | Antenas, filtros, casamento |
| Analisador de Potência | V, I, P, FP, harmônicas | Classe precisão, largura banda | Eficiência, standby, IEC 62301 |
| Unidade Fonte-Medida (SMU) | Fonte V/I precisa + medição | Resolução fA, pulso | Semicondutor, solar, bateria |
| Medidor LCR | Indutância, Capacitância, Resistência | Freq, bias, 4-fios | Classificação componentes passivos, QC |
| Câmera Térmica | Mapa temperatura IR | Resolução, NETD, freq | Hotspot, design térmico |
Orçamento de teste ≈ 10–20% do custo de desenvolvimento. Economizar aqui custa 10× depois. "Se não mediu, não fez."
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