1. Microscópio Eletrônico de Varredura (SEM)
Feixe elétrons focado varre superfície espécime, produzindo imagem topográfica 3D. Ideal para estudar morfologia e estrutura superfície nanoescala.
2. Microscópio Eletrônico Transmissão (TEM)
Feixe elétrons passa através espécime ultra-fino, revelando estrutura interna. Usado para análise ultraestrutural células, vírus, materiais.
SEM mostra detalhe superfície; TEM mostra detalhe interno. Ambos fornecem resolução extremamente alta.
Tecnologia Eletrônica © [www.351231.com]